主要用于半导体器件制程中的掺杂、氧化、推阱、退火、合金、薄膜沉积等工艺。
序号 |
指标名称 |
主要技术指标 |
1 |
晶圆尺寸 |
8英寸 |
2 |
最高温度 |
1100℃(石英) |
1250℃(碳化硅) |
||
3 |
控温精度 |
≤±0.5℃ |
4 |
温度均匀性 |
≤±1℃ |
5 |
升温速率 |
0-10℃/min |
6 |
最大装载量 |
170片 |
7 |
有效工作区域 |
Φ230mm×780mm |
8 |
温区数量 |
5 |
9 |
气路数量 |
4 |
10 |
片内均匀性(WIW) |
≤2% |
11 |
片间均匀性(WTW) |
≤2% |
12 |
批间均匀性(RTR) |
≤2% |
13 |
新增颗粒 |
≤50(≥0.16μm) ≤30(≥0.2μm) |
14 |
金属污染 |
<5E10 atms/cm2 |
主要用于半导体器件制程中的掺杂、氧化、推阱、退火、合金、薄膜沉积等工艺。