应用于集成电路制造中的监膜氧化层、多晶硅淀积;适用工艺有TEOS、Poly、SiN。
全自动传送,定位精准,稳定可靠;
高洁净工艺环境;
设备内部形成局部净化环境,有效控制污染;
工艺气体充分预热,气氛均匀,精确温控;
薄膜均匀性佳。
晶片尺寸:8*(兼容6*);
典型工艺温度:500℃~800℃;
恒温区长度:≥560mm;
单点温控精度:≤±0.5℃;
最大载片量:170片;
极限真空:≤20 mtorr;
新增颗粒:≤30(≥0.2μm);
金属污染:<5E 10atm/cm²