第三代宽禁带半导体SiC材料的同质外延生长。
超快速高质量外延生长能力;优良的生长厚度和掺杂浓度均匀性控制水平;满足向大尺寸、厚外延、低缺陷SiC外延材料发展需求。
1.内置式电磁感应加热,升降温速度快
2.基片气浮行星旋转运动,温度、外延膜均匀性好
3.三层水平层流送气,气流均匀性好
4.喷淋头水冷,预反应小
5.手套箱装取片 ,反应室内洁净度高
1.晶片尺寸:4”~6”;
2.最高温度:1700℃;
3.控温精度:±1℃;
4.极限真空:优于3Pa;
5.压力稳定性:100~1000mbar;
6.反应室漏气率:1E-10Pa·m3/S
7.工艺气体:SiH4、C3H8、N2、TMAl ;
8.载气:Ar、H2 。
用于SBD、MOSFET和BJT等高功率器件的SiC外延片的制造