应用于集成电路、分立器件、电力电子、光电器件和光导纤维等行业的扩散、氧化、退火、合金和烧..
用于SiC器件高温退火离子激活工艺,可适用于各种碳膜保护下的工艺要求。
应用于SiCMOSFET或IGBT器件低缺陷界面和高通道迁移率的栅氧生长工艺;也可用于其他高温..
主要用于半导体器件制程中的掺杂、氧化、推阱、退火、合金、薄膜沉积等工艺。